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等离子体RCS测试系统用于实现对等离子体的快速扫频测量，为兵器的隐身技术提供雷达散射截面参数和透射率参数。论文阐述了等离子体的产生和隐形机理，介绍了雷达散射截面和一维成像原理，并从硬件与软件两大方面对系统实现方案进行了论述。对两种微波信号源的快速扫频方案进行了比较；提出了HP8257D信号源快速扫频测量的方案；结合扫频测量成像原理，对系统微波射频模块的硬件结构进行了阐述；介绍了控制单元、中频单元控制电路的实现方法；研究了系统在不同触发方式下进行测量时的工作流程；简述了系统动态范围测量与一维成像分辨率测量的测量方法。介绍了系统软件需要实现的功能；研究了微波信号源HP 8257D在扫频过程中的控制方案；研究了采集卡在非双缓冲模式下的工作流程；介绍了PCI-GPIB接口卡在信号源程控过程中的应用方法；介绍了R232接口的通讯方法；实现了上位机与信号源、上位机与系统控制/中频单元的通信；介绍了扫频测量的雷达散射截面的计算方法；实现了对原始测量数据的雷达散射界面计算。列出了系统闭环和开环的散射、透射测量结果并进行了分析；给出了现场对金属罐内等离子体的测量方法；列出了现场测试结果并进行了分析。此外，论文结论部分对作者的工作和等离子体RCS测试系统尚存的技术问题进行了总结。